Especial · TDC São Paulo 2026

Como a Serasa reduziu bugs de Design System em 96% usando IA, automação e acessibilidade desde o roteiro

Na trilha Stadium do TDC São Paulo 2026, a apresentação 'Componentes Indestrutíveis' mostrou como o time de qualidade do Pitaia Design System (ex-MDLS) da Serasa passou de 139 bugs em homologação por mês para apenas 2, combinando gates de acessibilidade, MCPs e testes automatizados.

Stadium23 de setembro de 2026 às 16:49cobertura assistida por IA, revisada pela redação
Reprodução/YouTube · TDC São Paulo 2026

Testar um Design System é diferente de testar um fluxo de produto — e foi esse recorte que guiou a palestra Componentes Indestrutíveis: Elevando a qualidade de um Design System com Automação, IA e Acessibilidade, apresentada na trilha Stadium do TDC São Paulo 2026.

A apresentação contou a trajetória do Design System da Serasa desde 2022, quando nasceu o MDLS (Maria Design Language System) — nome inspirado na persona "Dona Maria", usada internamente para representar o público que a empresa quer atingir com crédito acessível. Em 2024, com a adoção por mais squads, o volume de bugs cresceu e a acessibilidade digital, até então tratada de forma superficial (contraste, tipografia, área de toque), passou a ser levada a sério. Em 2025 vieram a padronização de bugs e a criação de dois gates obrigatórios no fluxo — validação funcional e validação de acessibilidade. Em 2026 o produto foi rebatizado como Pitaia Design System.

O fluxo com "dois gates, zero exceções"

Segundo os slides projetados, nenhum componente sobe para a biblioteca sem passar pelas cinco etapas: Figma (fonte da verdade) → implementação pelo dev → QA funcional e visual → validação de acessibilidade → publicação no Pitaia. A automação usa Appium (app) e Playwright (web), com captura de screenshots via Pixel Matcher (substituindo o Percy, que limitava o volume de capturas) e verificação de acessibilidade com Axe Core e BrowserStack Accessibility. Mas, como destacou a apresentação, ferramentas automatizadas têm limite:

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